Kore SurfaceSeer I是一款高靈敏度、高質量范圍、高分辨率的SIMS二次離子質譜儀（TOF-SIMS），可以用于絕緣、導電表面的成像分析與化學成分分析。SurfaceSeer I是研究表面化學的分析利器，適用于研發(fā)和工業(yè)質量控制應用。

SIMS二次離子質譜儀主要通過離子源發(fā)射離子束濺射樣品表面進行分析。離子束作為一次離子源，經過一次離子光學系統(tǒng)的聚焦和傳輸，到達樣品表面。樣品表面經過濺射，產生二次離子，系統(tǒng)將產生的二次離子提取和聚焦，并將二次離子送入離子飛行系統(tǒng)。在離子飛行系統(tǒng)中，不同種類的二次離子由于質荷比不同，飛行速度也不同，在飛行系統(tǒng)分離，通過檢測這些離子進行相關分析。

靜態(tài)SIMS是一種非常靈敏的表面分析技術，能在只消耗樣品單層一小部分的情況下，獲得詳細的質譜圖。被分析的分子來自固體表面前幾層，這對于探討材料關鍵區(qū)域例如附著力或催化等性質至關重要。

SurfaceSeer I 使用與 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技術，但配備了高亮度、高空間分辨率的 25kV 液態(tài)金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源。LMIG 的探頭尺寸≤ 0.5µm，可實現(xiàn)高分析空間分辨率。全自動計算機控制，允許在質譜采集期間掃描離子槍，從而可以收集到化學圖像或圖譜。另外還提供了一個二次電子探測器（SED），用 于調諧初級電子束和 SED 圖像捕獲。

帶有12.7µm重復單元的銅格柵

SurfaceSeer I 儀器特點：

• 配備25KV液態(tài)金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源，檢測能力更強，質量分辨率更高；
  

• 具備表面成像和深度剖析功能；

• 提供的SIMS材料譜庫包含上千種材料的質譜數(shù)據(jù)，可識別未知的化合物和材料；

• 可同時分析所有元素及有機物，可消除有機物和元素干擾，使譜圖更清晰，檢測限更低，能更有效地分析材料樣品。

• 專用數(shù)據(jù)處理軟件允許分析數(shù)據(jù)和樣品的化學構成信息進行全面的交互提取，其所有儲存的數(shù)據(jù)都能用于溯源性分析。

• 表面分析靈敏度高達 1x10⁹ atoms/cm²

SurfaceSeer I 應用領域:

• 表面涂層和處理
  

• 電子元件和半導體
  

• 電極與傳感器
  

• 潤滑劑
  

• 催化劑
  

• 粘合劑
  

• 薄膜等包裝材料
  

• 腐蝕研究
  

• 大學教學與科研